HAST試驗箱與高低溫試驗之間的不同之處

作者：林頻儀器發布日期：2023-04-19 13:43　

如今，在集成電路IC領域內，環境可靠性測試設備主要有HAST試驗箱和高低溫試驗箱這兩個，但是為什么HAST試驗箱能夠成為集成電路IC可靠性測試的佳選呢？它們的區別又在哪里，我們一起來看一下。

　
　一、這是因為HAST試驗箱是結合溫濕度、壓力條件的高加索試驗，在高壓條件下加速濕氣滲透到外部保護物料和金屬導電層之間的界面滲入，本測試是用于識別封裝內部的失效機制而且是破壞性的。

　二、高低溫試驗箱能分為多個測試項目，有高低溫運行測試、高低溫交變測試、溫度沖擊測試等等。雖然能測試的項目很多，但是可測試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命。

　三、單一的溫濕度測試不夠準確的測試產品在氣壓下的使用情況。但是HAST試驗箱測試集溫度-濕度-壓力(非飽和可調)一體，多方面測試集成電路IC，評估產品的失效機制。

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